Leitz Reference Xi – “Xi” 代表著系統(tǒng)具備充分的“靈活性”。 將Leitz高性能的掃描技術(shù)應(yīng)用于新型Leitz Reference Xi，提供了豐富的測量選擇：從連接自動旋轉(zhuǎn)測座的HP-S-X1掃描探測系統(tǒng)，到配備固定式掃描探測系統(tǒng)HP-S-X3C 一直到HP-S-X5 HD，能夠在配備加長探針的情況下保持高精度。 在各種配置下提供一如既往的高精度 - 無論是分度還是固定式探測系統(tǒng)。通過配備支持多測頭的控制器，Leitz Reference Xi系列測量機還能夠配備激光掃描測頭、接觸式粗糙度測頭，實現(xiàn)微觀尺寸評定。這些不同形式的測頭傳感器可以通過SENMATION多測頭平臺整合在一臺Reference Xi 上隨時取用，實現(xiàn)在各種環(huán)境下的高精度、全自動、復(fù)合式靈活測量。
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